خط مشی دسترسیدرباره ما
ثبت نامثبت نام
راهنماراهنما
فارسی
ورودورود
صفحه اصلیصفحه اصلی
جستجوی مدارک
تمام متن
منابع دیجیتالی
رکورد قبلیرکورد بعدی
library name : کتابخانه مرکزی دانشگاه علوم پزشکی شهید بهشتی
Document Type : Latin Book
Language of Document : English
Record Number : 3431
Doc. No : 3762
Main Entry : Eaton, Peter, [Main author]
Title & Author : Atomic force microscopy [Book]/ edited by Peter Eaton; Paul West
ISBN : 0199570450(hbk.) ; 9780199570454(hbk.)
Publication Statement : Oxford: Oxford University Press, c2010.
Physical Description : viii, 248 p.: ill. ; 26 cm.
Note : Print
Bibliography, Glossary and Index : Includes bibliographical references and index.
Contents : 1. Introduction; 2. Instrumental Aspects of AFM; 3. AFM Modes; 4. Measuring AFM Images; 5. Image Processing in AFM; 6. Image Artifacts in AFM; 7. Applications of AFM; Appendix 1: AFM Standards and Calibration Specimens; Appendix 2: AFM Software
Subject : Atomic force microscopy
Subject : Atomic force microscopy
Subject : Microscopy ; Crystallography ; Materials science
Subject : SCIENCE / Life Sciences / General
Subject : SCIENCE / Physics
NLM Classification : ‭QH201‬‭E14a 2010‬
 
 
 
(در صورت عدم وضوح تصویر اینجا را کلیک نمایید)